一、 描述

1. 供电：USB DC 5V，内置锂电池4.2V。

2. 产品外壳是塑胶材质，测试前非整机，没有底壳。

3. 静电测试等级：

① USB接口：接触±4KV/10次，空气±8KV/10次。

② 键盘按键：空气±8KV/10次。

③ 触摸板：空气±8KV/10次。

4. 整改前现象：

①USB接口：测试接触正压在放电时产品会重启，负压测试时产品会重启；测试空气和接触的现象一样。

②键盘按键：测试空气正压偶尔出现重启，负压概率更高。

③触摸板：测试空气正压偶尔出现重启，负压概率更高。

二、 分析

1. 静电进到GND影响到电源的参考电压发生变化导致重启。

2. 静电辐射耦合到USB的信号线传导到芯片导致重启。

3. 静电辐射耦合到触摸信号线传导到芯片导致重启。

4. 静电辐射耦合到按键信号线传导到芯片导致重启。

三、 整改思路

主板整改：

  1.USB外壳与GND之间串1000Ω磁珠，对USB接口测试静电，现象重启。

  2.USB外壳与GND之间串10UF瓷片电容，对USB接口测试静电，现象重启。

  3.USB外壳与GND之间串15PF瓷片电容，对USB接口测试静电，现象重启。

  4.用1000Ω和15PF瓷片电容并联串后在USB外壳与GND之间，对USB接口测试静电，现象重启。

  5.两颗1000Ω并联后串在USB外壳与GND之间，对USB接口测试静电，现象重启。

  6.保留上面整改，然后在Vbus对GND并单向TVS/SMF5.0A，对USB接口测试静电，现象重启。

  7.在BAT对GND并单向TVS/SMF5.0A，对USB接口测试静电，现象重启。

  8.从以上整改现象发现静电枪靠近按键排线比较容易出现重启，为了验证是否跟判定一样，把放电接地线横跨按键排线对放电地线打静电，确实是排线容易辐射耦合静电导致重启，然后在按键排线做屏蔽，没有改善。

  9.去掉按键排线的屏蔽，在主板与键盘金属框架之间贴铜箔，对USB接口测试静电，有很大的改善，偶尔会出现重启。

  10.把Vbus和BAT对GND的TVS换成双向的，对USB接口测试静电没有改善。

  11.在USB的数据线DIO和CLK之间加ESD/SE05D3D01GN，DIO对Vbus加ESD/SE05D3D01GN,CLK对GND加ESD/SE05D3D01GN，有改善，对USB接口测试静电出现重启的概率变小。

  做完以上整改后开始对键盘按键和触摸板整改，由于按键是连接到主板对按键位置测试空气放电

  跟USB接口现象一样，出现重启概率很低，就直接整改触摸板部分。

触摸板整改：

1.在触摸板3.3V对GDN加ESD/SE05D3S01GY,对触摸板测试静电，出现重启。

2.在触摸排线做屏蔽，对触摸板测试静电，出现重启。

3.去掉触摸排线的屏蔽，在主板与触摸板之间用铜箔连接，有改善，还是会出现重启。

4.在主板与按键金属框架与触摸板之间用铜箔连接，有改善，出现重启概率低很多。

重复验证：

1.按照以上整改后重复对USB接口、按键、触摸板测试验证，还是偶尔会有重启的现象。

2.由于给到的产品不是整机，缺少了底壳，所以把产品反过来底面向上测试，发现把产品反过来后测试没有问题。

3.把产品正放回去，然后再产品地下垫高，模拟装有底壳，测试也没有问题。

  按照此方法重复验证，确认没问题。

四、 解决方法

1. USB外壳对GDN串2颗1000Ω磁珠。

2. Vbus和BAT对GDN加单向TVS/SMF5.0A。

3. DIO与CLK之间加ESD/SE05D3D01GN。

4. DIO与Vbus之间加ESD/SE05D3D01GN。

5. CLK与GDN之间加ESD/SE05D3D01GN。

6. 3.3V与GND之间加ESD/SE05D3S01GY。

7. 主板与按键金属框架与触摸板之间加铜箔。

修改过的图片如下所示：

五、 总结

1. 外部接口外壳与GND相连的产品测试静电比较容易出现问题的时候应该把接口外壳与GND做隔离。

    2. 对GND测试不容易过的产品有可能是参考地不够，导致静电泄放不够，应该增加接地面积。